13911564578,010-82967128
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 澤攸科技電子顯微鏡 > SEM原位解決方案
相關(guān)文章
原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實現(xiàn)在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。
PicoFemto電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)原位解決方案，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實驗樣品原位加熱。
電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng)原位解決方案，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。
原位解決方案——光電力一體化系統(tǒng)集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對電學(xué)探針與光纖探針進行亞納米級別精度的操縱與定位。
SEM原位解決方案——SEM納米力測量系統(tǒng)將納米壓痕儀集成進掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進行原位納米壓痕研究。
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 360°旋轉(zhuǎn)冷臺、冷阱 溫度范圍:-60°C to +50℃C最大功率:~45W(12V,3.5A)溫度穩(wěn)定性:±0.01℃℃·低圖像漂移速率·冷卻和加熱速度高達 30℃/分鐘·提供 SEM 室端口饋通
聯(lián)系人：霍先生
地址：北京市昌平區(qū)吉晟別墅19-11
郵箱：huogang010@163.com
傳真：010-82967358歡迎您關(guān)注我們的微信號了解更多信息
掃一掃
歡迎來到